Kontakt
Presse
Sitemap
Impressum
FAQs
English
Max-Planck-Institut für Chemische Physik fester Stoffe
Besuchen Sie unsere neue Webseite!

http:\\www.cpfs.mpg.de
 
Metallografie
    


Kompetenzgruppe Metallographie

Ansprechpartner: Dr. Ulrich Burkhardt



 

Die Schwerpunkte der experimentellen Arbeiten sind die Herstellung von metallographischen Anschliffen und die Charakterisierung der Materialien mit Licht- und Rasterelektronenmikroskopie. Die Ziele sind zuverlässige Phasenanalysen mittels energie- und wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie sowie qualitative und quantitative Gefügebewertung.

Die  instrumentelle Ausstattung zur Probennahme, Einbettung und Schliffherstellung ist auf die Bearbeitung von Metalllegierung ausgerichtet. Darüber hinaus steht eine vollständige Präparationsstrecke in einem Handschuhkasten mit Argonschutzgas zur Verfügung. Dies ermöglicht Gefügeuntersuchungen an luft- und feuchtigkeitsempfindlichen Materialien wie etwa seltenerdmetallreiche Legierungen oder Carbometallate. (Abb. links: Gefüge einer kohlenstoffreichen Probe aus dem System Er-Fe-C, Hellfeldaufnahme)

Für Morphologieuntersuchungen und Mikrobereichsanalysen mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDXS) wird ein  Rasterelektronenmikroskop XL30 mit LaB6 Kathode verwendet (Abb. links: Kristalle der Verbindungs VB2; SE-Kontrast).

Weitergehende Phasenanalysen an metallographischen Schliffen werden mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie (WDXS) an der  Elektronenstrahl-Mikrosonde Cameca SX100 mit Wolfram-Kathode durchgeführt. (Abb.links: mehrphasiges Gefüge einer galliumreichen Legierung des Systems Mg-Ag-Ga, BSE-Kontrats). Die wesentlich bessere spektroskopische Auflösung und die Verwendung von Standards beim WDXS Verfahren ermöglichen insbesondere für leichte Elemente eine deutlich genauere Bestimmung der Gehalte. Systematische Leichtelementanalysen wurden beispielsweise im Rahmen der Untersuchungen an intermetallischen Borverbindungen durchgeführt.


EDX vs WDX:
links - Teilspektrum VB2 (ca 400 eV)
rechts - Teilspektrum Zr2PTe2 (ca. 2 keV)

weitere elektronenmikrokopische Aktivitäten:
 TEM/REM
 TEM-Präparation
 Elektronenholographie


Kontakt

Dr. Ulrich Burkhardt
Tel. +49 (0) 351 4646-2225
Fax +49 (0) 351 4646-4002
burkhard[at]cpfs.mpg.de
Zuletzt geändert am 29. Januar 2010 Druckversion         Top
© 2017, Max-Planck-Institut für Chemische Physik fester Stoffe Impressum